TY  - RPRT
TI  - Characterizing nanometric thin films with far-field light
AU  - Klimovsky, H.
AU  - Shavit, O.
AU  - Julien, C.
AU  - Olevsko, I.
AU  - Hamode, M.
AU  - Abulafia, Y.
AU  - Suaudeau, H.
AU  - Armand, V.
AU  - Oheim, M.
AU  - Salomon, A.
PY  - 2022
DO  - 10.1101/2022.08.15.503956
UR  - https://www.biorxiv.org/content/10.1101/2022.08.15.503956v1
ID  - 10.1101/2022.08.15.503956
ER  -